<font id="7blld"><video id="7blld"><listing id="7blld"></listing></video></font>

        <font id="7blld"><em id="7blld"><meter id="7blld"></meter></em></font>

        <font id="7blld"></font>
        <menuitem id="7blld"></menuitem>
        <font id="7blld"><span id="7blld"><thead id="7blld"></thead></span></font>
        <b id="7blld"><em id="7blld"></em></b>
        <menuitem id="7blld"></menuitem>

        <dfn id="7blld"></dfn>

          <menuitem id="7blld"></menuitem>

          您現在的位置:首頁 > 新聞中心> 蔡司顯微鏡客戶成就半導體材料

          新聞中心

          蔡司顯微鏡客戶成就半導體材料
          發布日期:2021-01-29 13:26:27

               據Nature Communications和Nano Letters上最新發表的文章報道,Holleitner教授和Finley教授率領的WSI團隊利用蔡司氦離子蔡司顯微鏡在二維半導體材料二硫化鉬(MoS2)中精心設計了原子缺陷。關于他們的研究,我們采訪了Holleitner教授和Elmar Mitterreiter——該團隊的成員之一、同時也是該系列文章的共同作者。

            是什么科學問題促使您開展這項研究?

            量子技術的重要性日益凸顯。為了探索信息技術的最小單元、尋求合適量子技術的基質材料,人們開展了深入廣泛的研究。在這個過程中,我們急需一種易調整、快速且高精密度的納米圖案加工技術,蔡司顯微鏡從而在合適的材料中創建最小的功能單元。二維材料不僅具有獨特的電子和光學性質,還可以提供平面外(out-of-plane)方向上的量子限制或限域效應,堪稱是基質材料的理想選擇。蔡司顯微鏡在此基礎上,我們提出了這樣一個問題:如何在二維材料(如MoS2)中實現原子級別的功能化?例如,如何在大規模應用中精密構建具有光學活性的原子缺陷?在加工和應用過程中的實際物理過程又是什么?

            蔡司氦離子顯微鏡(HIM)是如何實現上述工作的?

            

          圖片

           

            ▲利用氦離子顯微鏡(HIM)對二維材料進行高分辨率圖案加工。此圖展示了氦離子束(紅色)照射下的單層二硫化鉬以及利用掃描隧道顯微鏡(STM)進行后續研究。

            基于二維材料本身的特質,對其的納米級加工就需要很高的表面靈敏度。蔡司顯微鏡此外,潛在的工業界應用還需要我們的加工工藝能滿足高精度、可擴展和快速圖案加工的要求。

            蔡司氦離子顯微鏡(HIM)(點擊查看)正是集所需的各種特性于一身的解決方案。蔡司顯微鏡對于本實驗中使用的MoS2二維材料,氦離子與MoS2在亞納米尺度上相互作用,以極高的精密度準確地去除MoS2基質晶體中的單個原子。

            

          圖片

           

            ▲利用氦離子顯微鏡進行圖案加工處理。左圖:綠線代表所需加工的間距為20 nm的線形圖案。右圖:利用掃描隧道顯微鏡(STM)解析得到的單層二硫化鉬的線形圖案。蔡司顯微鏡從結果中我們可以看到線條的間距為所設計的20 nm,蔡司顯微鏡同時我們也發現每條線的平均寬度約為8 nm。STM的測量是在美國伯克利的Molecular Foundry與Bruno Schuler和Alex Weber-Bargioni共同完成的。

          国产一级性爱视频,色呦呦在线视频观看,91上海人妻系列网站,精品中文字幕久久边人妻,樱岛麻衣裸体无遮挡黄漫画